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          近場探頭EM5030

          簡要描述:

          近場探頭套件EM5030主要用于電子產品的電磁場測量,實現干擾源快速位,多種形狀的探頭,寬頻率范圍,可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器,增益約20dB,可提高系統測試靈敏度!

          發布日期:2023-12-30

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          近場探頭EM5030

           

                  近場探頭EM5030主要用于電子產品的電磁場測量,實現干擾源快速位,多種形狀的探頭,寬頻率范圍,可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器,增益約20dB,可提高系統測試靈敏度!廣泛應用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強度;機箱、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況;甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線,從而判斷干擾產生的原因,提高產品設計水平,縮短產品開發周期。

            

                    近場探頭通過移動探頭可檢測磁場方向和分布,找出干擾源,提高EMC整改效率。具有寬頻率范圍,多種探頭,可以滿足多種電磁場測試任務,其中的無源探頭可匹配頻譜儀/接收機示波器50Ω輸入端被,方便檢查磁場或電流變化。近場探頭使用方便,安裝快捷,定位干擾源。

          【近場探頭產品規格】

           

          【 前置放大器規格】

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